Apple Xserve - Apple Xserve Diagnostics (Version 3X103) - Handbuch (Seite 41)

Anhang Informationen zu den Tests der AXD-Dienstprogramme 41
Hinweis: Die Zeit, die zum Ausführen der Speichertests benötigt wird, hängt dabei von
der Größe des getesteten Arbeitsspeichers ab. Die hier genannten Näherungswerte
basieren auf Tests mit 1 GB Arbeitsspeicher.
Test Geschätzte Dauer Beschreibung
Test mit Adresse als Daten 5 Sekunden Testet den Arbeitsspeicher unter
Verwendung der Speicheradresse
als Daten
Muster-Test 25 Sekunden Testet den Arbeitsspeicher unter Ver-
wendung verschiedener Datenmuster
Wandernde Einsen und
Nullen Test 15 Sekunden Testet den Arbeitsspeicher mit wan-
dernden Einsen und Nullen (aufwärts
und abwärts)
Knaizuk Hartmann Test 10 Sekunden Testet den Arbeitsspeicher anhand
dieses Algorithmus
MOD3 Test 30 Sekunden Testet den Arbeitsspeicher anhand
dieses Algorithmus
Speichertest mit wandern-
dem U nach Van de Goor 2 Minuten Testet den Arbeitsspeicher anhand
dieses Algorithmus
Speichertest mit pseu-
dozufälligen Werten 15 Sekunden Verwendet pseudozufällige Werte
Blockweiser Checkerboard
32 Test 10 Sekunden Wechselt zwischen 32-Bit-Wörtern mit
allen Einsen und Nullen und dann mit
allen Nullen und Einsen
Bitweiser Checkerboard
32 Test 10 Sekunden Wechselt die Bit bei allen Einsen und
Nullen und dann bei allen Nullen und
Einsen
Sequenzieller Byteblock
32 Test 14 Minuten Füllt alle Byte nacheinander mit
Mustern, beginnend bei 0x00 und
endend mit 0xFF
Wandernde Einsen 32 Test 5 Minuten Setzt die Einsen im Arbeitsspeicher
nach oben und dann wieder nach
unten
Wandernde Nullen 32 Test 5 Minuten Setzt die Nullen im Arbeitsspeicher
nach oben und dann wieder nach
unten
Wandernder Spread-Bit-
32-Test 5 Minuten Setzt 0b01 im Arbeitsspeicher nach
oben und 0b10 nach unten
Wandernder Bitinverter-
32-Test 5 Minuten Wechselt Wörter mit wandernden
Einsen und Nullen und dann mit
wandernden Nullen und Einsen