3 fehler und störungen, 1 fehlermeldungen, 2 störungen und deren behebung – Metrohm 761 SD Compact IC Benutzerhandbuch
Seite 112: Fehler und störungen, Fehlermeldungen, Störungen und deren behebung

6 Hinweise – Wartung – Fehler
761 SD Compact IC / Gebrauchsanweisung 8.761.1041
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6.3 Fehler
und
Störungen
6.3.1 Fehlermeldungen
Falls beim Betrieb des 761 SD Compact IC Fehler irgendwelcher Art
auftreten, wird dies durch Fehlermeldungen im PC-Programm «IC Net»
bzw. «IC Cap» angezeigt, die entweder in einem Fehlerfenster oder im
Fenster
SYSTEM STATE
erscheinen.
Befolgen Sie die Anweisungen, die im Fehlerfenster aufgeführt sind
und schliessen Sie dieses Fenster mit
<OK>
.
Nähere Angaben zu den Fehlermeldungen im Fenster
SYSTEM STATE
,
deren möglichen Ursachen und dem Vorgehen zu deren Behebung fin-
den Sie in der Software-Gebrauchsanweisung «IC Net 2.3» Kap. 4.5.
6.3.2
Störungen und deren Behebung
Treten bei den Analysen mit dem 761 SD Compact IC Schwierigkeiten
auf, so werden deren Ursachen am besten in der Reihenfolge Trenn-
säule
→
Hochdruckpumpe
→
Eluent
→
Verbindungen gesucht.
Einige der auftretenden Störungen sind in der folgenden Tabelle mit
Angabe von möglichen Gründen und Gegenmassnahmen speziell
aufgeführt.
Störung
Ursache
Behebung
Stark verrauschte
Grundlinie, Pulsa-
tion
•
Verschmutzte Pumpen-
ventile
•
Defekte Kolbendichtun-
gen
•
Ventile reinigen (siehe
Kap. 6.2.5)
•
Kolbendichtungen austau-
schen (siehe Kap. 6.2.5)
Drift der
Grundlinie
•
Thermisches Gleichge-
wicht noch nicht erreicht
•
Leck im System
•
System bei eingeschalte-
ter Heizung konditionieren
•
Verbindungen kontrollieren
und abdichten
Markanter Druck-
abfall
•
Leck im System
•
Verbindungen kontrollieren
und abdichten
Markanter Druck-
anstieg
•
Filter der Filtereinheit
PEEK 6.2821.120 ist
verstopft
•
Veränderung der Säu-
lenpackung durch Injek-
tion verschmutzter Pro-
ben
•
Filter 6.2821.130 aus-
wechseln (siehe Kap.
2.3.3)
•
Säule regenerieren oder
Säule ersetzen (siehe Kap.
6.2.4)
Hinweis:
Proben sollten immer
mikrofiltriert werden.
Chromatogramme
mit schlechter
Auflösung, Verän-
derung der Reten-
tionszeiten
•
Verschlechterte Trenn-
leistung der IC-Säule
•
Säule regenerieren oder
Säule ersetzen (siehe Kap.
6.2.4)
Extreme Peak-
verbreiterung,
Splitting (Dop-
pelpeaks)
•
Totvolumen an den Säu-
lenenden
•
Säule regenerieren (siehe
Kap. 6.2.4)