5 anhang, 1 technische daten, 1 leitfähigkeitsmessung – Metrohm 861 Advanced Compact IC Benutzerhandbuch
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5.1 Technische Daten
861 Advanced Compact IC / Gebrauchsanweisung 8.861.1031
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5 Anhang
5.1 Technische
Daten
Soweit nicht anders angegeben, sind die publizierten
Daten typische Werte für den 861 Advanced Compact
IC bei einer Umgebungstemperatur von 25°C.
5.1.1 Leitfähigkeitsmessung
Messbereich 1
0
…
5000
µ
S/cm (Auflösungsschritt: 2.80 nS/cm)
Messbereich 2
0
…
1000
µ
S/cm (Auflösungsschritt: 0.56 nS/cm)
Messbereich 3
0
…
250
µ
S/cm (Auflösungsschritt: 0.14 nS/cm)
Messbereich 4
0
…
50
µ
S/cm (Auflösungsschritt: 0.028 nS/cm)
Maximaler Fehler
±
1 % vom Full-Scale-Wert und
±
1 % vom Messwert (k = 16.7/cm)
Linearität
Abweichungen <
±
0.5 % des Full-Scale-Wertes
Rauschen
typ. 0.2 nS/cm (Gesamtrauschen des Systems -
chemisch und elektronisch mit Trennsäule und
sequentieller Suppression)
Drift (elektronisch)
typ. < 10 ppm/h vom Full-Scale-Wert
Temperaturabhängigkeit
typ. < 40 ppm/°C vom Full-Scale-Wert
Bereichsreserve
> 33 % (k = 16.7/cm)
Messrate
10 Messungen/s fix
5.1.2 Leitfähigkeitsdetektor
Aufbau
Thermostatisierter Leitfähigkeitsdetektor mit
2 ringförmigen Stahlelektroden
Messprinzip
Wechselstrommessung mit 1 kHz Frequenz und
ca. 1.7 V Amplitude (peak to peak).
Effektives Zellvolumen
0.8
µ
L
Zellkonstante
ca. 17 /cm (der genaue Wert ist auf dem Detektor
aufgedruckt)
Maximaler Gegendruck für
Messzelle
5.0 MPa (50 bar)
Thermostatisierung
Zuschaltbare dynamische Regelung auf einstell-
bare Arbeitstemperatur
Arbeitstemperatur
Einstellbar in Schritten von 5°C von 25
…
45°C
Max. Temperaturabweichung
±
2.5°C